JESD22-A106B.01-2016是JEDEC（固态技术协会）发布的一项关于热冲击测试的标准，规定了热冲击测试的方法和要求，用于评估被测样品在突然受到剧烈温度变化时的电阻和适应性。
测试标准说明
进行此温度冲击测试，是为了确保半导体元器件，对于突然暴露在极端高低温条件下的抵抗力及影响，此试验其温变率过快并非模拟真正实际使用情况，其目的是施加较严苛的应力于半导体元器件上，加速其脆弱点的破坏，找出可能的潜在性损害。
JESD22-A106B.01-2016对环境试验箱的要求
温度控制精度：要求试验箱能够精确控制温度，确保测试过程中温度波动的幅度在规定的范围内。
温度变化速率：规定了从高温到低温（或反之）的快速转换速率，以模拟实际使用中可能遇到的极端温度变化。
温度均匀性：要求试验箱内部温度分布均匀，确保被测样品在测试过程中受到的温度影响一致。
三木科技两槽冷热冲击试验箱
温度冲击范围：高温冲击温度范围:+60℃~+150℃
低温冲击温度范围:-40℃~-10℃
(A:-40℃-+150℃:B:-55℃-+150℃:C:-65℃-+150℃)
高温槽储能范围：(1)预热上限温度:+60℃~+200℃
(2)升温时间:常温→+200℃≤45min(3.0~5.0℃/min)
注:升温时间为高温箱单独运转时的性能
低温槽储能范围：(1)预冷下限温度:-10℃~-70℃
(2)降温时间:常温→-70℃≤60min(1.0~2.0℃/min)
注:降温时间为低温箱单独运转时的性能
温度冲击复归性能：高温曝露+150℃，30分钟以上，测试时间可调节
低温曝露-40℃，30 分钟以上，测试时间可调节
温度冲击恢复时间: ≤5min以内完成，空载下
温度波动度: ≤士0.5℃，温度恒定时测试
温度均匀度: ≤2.0℃，温度恒定时测试
温度偏差: ≤士2℃，温度恒定时测试
吊篮转换时间：10 秒以内完成
备注:温度均匀度及偏差在环境温度为+25℃、相对湿度≤85%R.H、无试样条件下测得的数值。
三木科技的冷热冲击试验箱满足了JESD22-A106B.01-2016标准的要求。三木科技一直以来聚焦更节能和更安全的可靠性环境测试设备的技术、环境模拟运动房系统，FCT、ICT精密治具，实验室整体解决方案，其产品被广泛应用于科研院校、商检质检、国防武器、新能源汽车、储能、精密电子、半导体芯片、太阳能光伏等多个重要领域，并通过了ISO9001、ISO14001、ISO45001质量体系认证，是国家高新技术企业，广东专精特新企业、创新型企业和军民融合企业。
